android查看gc android查看gpu使用率

如何查看android系統(tǒng)gc的次數(shù)

進入設(shè)置---應(yīng)用程序---正在運行一欄，就能看到具體使用的內(nèi)存了。

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按照上述方法，把 u-boot 燒錄到 sd 上，使開發(fā)板從 sd 卡啟動。 進入開發(fā)板命令終端 # ： 首先格式 emmc ，目的是分配 4 個分區(qū)。

可以在logcat(輸出信息可以在Device Monitor或者IDE中查看到，例如Eclipse和Android Studio)中找到這些日志信息。

java里面有專門獲取系統(tǒng)屬性的東西，在System里面。比如 data 時間1=當前時間；void{執(zhí)行的程序}；data 時間2 = 當前時間；啟動時間等于 時間2 - 時間1，再用dataformat轉(zhuǎn)換格式。其他的幾個屬性也能這樣來做。

Android內(nèi)存優(yōu)化三:內(nèi)存泄漏檢測與監(jiān)控

1、使用Memory Profiler 分析內(nèi)存可以查看guan 網(wǎng)： 使用內(nèi)存性能分析器查看應(yīng)用的內(nèi)存使用情況 對于內(nèi)存泄漏問題，Memory Profiler 只能提供一個簡單的分析，不能夠確認具體發(fā)生問題的地方。

2、了解Android的內(nèi)存管理機制在處理內(nèi)存泄漏問題之前，我們首先要了解一下Android的內(nèi)存管理機制，只有了解了這一點，我們才能夠更加有效地進行排查和解決。

3、MAT工具是一個Eclipse 插件，同時也有單獨的RCP 客戶端，MAT工具的解析文件是.hprof，這個文件存放了某進程的內(nèi)存快照。MAT工具定位內(nèi)存泄漏具體位置的方法如下：① 生成.hprof文件。

4、android studio 中Memory Profile的用法 接入LeakCanary，監(jiān)控所有Activity和Fragment的釋放，App所有功能跑一遍，觀察是否有抓到內(nèi)存泄露的地方，分析引用鏈找到并解決問題，如此反復(fù)，直到LeakCanary檢查不到內(nèi)存泄露。

5、Android tools中的DDMS就帶有一個很不錯的內(nèi)存監(jiān)測工具Heap(這里我使用eclipse的ADT插件，以真機為例，（在模擬器中的情況類似)。

6、對于 優(yōu)化的大方向，我們應(yīng)該優(yōu)先去做見效快的地方，主要有以下三部分：內(nèi)存泄漏、內(nèi)存抖動、Bitmap。完善監(jiān)控機制也是我們的重點，能幫助我們對內(nèi)存問題快速分析和處理。

android中需要調(diào)用system.gc嗎

(2)盡量少用 System.gc()此函數(shù)建議 JVM進行主 GC，雖然只是建議而非一定，但很多情況下它會觸發(fā) 主 GC，從而增加主 GC 的頻率，也即增加了間歇性停頓的次數(shù)。

一般不建議使用system.gc()去顯示地要求進行垃圾回收，一般每一次顯示的調(diào)用system.gc()都會進行一次full gc，而full gc會導(dǎo)致應(yīng)用的暫停，如果頻繁地full gc會導(dǎo)致應(yīng)用長時間暫停，也就無法正常運行了。

有時候也可能是整個系統(tǒng)的原因；Android 4之前，Android系統(tǒng)一直都是在Dalvik 虛擬機上的， 從Android 4開始開始引入ART，到0已經(jīng)成為默認選擇。

Android內(nèi)存泄露檢測(二)

1、android studio 中Memory Profile的用法 接入LeakCanary，監(jiān)控所有Activity和Fragment的釋放，App所有功能跑一遍，觀察是否有抓到內(nèi)存泄露的地方，分析引用鏈找到并解決問題，如此反復(fù)，直到LeakCanary檢查不到內(nèi)存泄露。

2、功能強大PC端檢測工具，如MemoryAnalyzer運行在PC端抓取Android手機中的dump文件進行深度分析。

3、查詢數(shù)據(jù)庫而沒有關(guān)閉Cursor 在Android中，Cursor是很常用的一個對象，但在寫代碼是，經(jīng)常會有人忘記調(diào)用close， 或者因為代碼邏輯問題狀況導(dǎo)致close未被調(diào)用。

4、Android內(nèi)存泄露利器（hprof篇）》中的工具自動提取多個hprof文件，然后用MAT進行比較分析。

Android內(nèi)存抖動——檢測、常見場景、處理

1、內(nèi)存抖動在Android Profile中表現(xiàn)為：在Profiler的Memory中點擊Recod(AS 3)，錄制一段內(nèi)存，然后在stop。

2、源自Android文檔中的 Memory churn 一詞，中文翻譯為內(nèi)存抖動。指快速頻繁的創(chuàng)建對象從而產(chǎn)生的性能問題。引用Android文檔原文：Java內(nèi)存泄漏的根本原因是 長生命周期 的對象持有 短生命周期 對象的引用就很可能發(fā)生內(nèi)存泄漏。

3、我們利用工具：Hierarchy Viewer進行檢測，優(yōu)化思想是：查看自己的布局，層次是否很深以及渲染比較耗時，然后想辦法能否減少層級以及優(yōu)化每一個View的渲染時間。

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